RFID電子標(biāo)簽天線的作用

在由無(wú)源標(biāo)簽天線組成的射頻識(shí)別系統(tǒng)中，電子標(biāo)簽必須從RFID設(shè)備生成的電磁場(chǎng)或電磁波中獲得能量激活標(biāo)簽芯片。因此，電子標(biāo)簽的部分電路用于檢測(cè)標(biāo)簽天線上的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)或感應(yīng)電壓，通過(guò)二極管電路整流，通過(guò)其他電路放大電壓等。這些電路集成在存儲(chǔ)器標(biāo)簽芯片內(nèi)。芯片封裝時(shí)，通常會(huì)引入部分分布式容量。但是天線設(shè)計(jì)本身不需要知道芯片的特定電路，只需要掌握芯片和封裝的芯片阻抗，利用大能量傳遞的規(guī)律設(shè)計(jì)天線的輸入阻抗即可。

對(duì)于在超高頻和微波波段工作的標(biāo)簽天線，為了抵消芯片的耐受性，需要在天線設(shè)計(jì)中添加環(huán)形結(jié)構(gòu)來(lái)提供感性，或者添加T型等結(jié)構(gòu)。此外，為了在規(guī)定的等效全向輻射功率中獲得更遠(yuǎn)的讀取距離，電子標(biāo)簽天線也具有較高的增益。此外，電子標(biāo)簽天線和RFID芯片之間需要足夠的匹配。

RFID電子標(biāo)簽天線的設(shè)計(jì)

設(shè)計(jì)和模擬標(biāo)簽天線并獲得所需結(jié)果后，必須對(duì)天線進(jìn)行加工和測(cè)試，以驗(yàn)證設(shè)計(jì)和模擬的準(zhǔn)確性。上述標(biāo)簽天線具有多個(gè)阻抗特性，測(cè)試方法和具有實(shí)際阻抗天線的測(cè)試方法不同。此外，同一電子標(biāo)簽天線的測(cè)試程序取決于所需的數(shù)據(jù)，并取決于測(cè)試方法。一般來(lái)說(shuō)，在測(cè)試天線的過(guò)程中，不需要特別測(cè)試天線的輸入阻抗。但是，標(biāo)簽天線的阻抗是負(fù)阻抗，虛擬部分和實(shí)際部分的大小比較大，因此，這些阻抗曲線在Smith餅圖中靠近段落圓，通過(guò)Smith網(wǎng)絡(luò)圖很難觀察到天線的阻抗帶寬。為了獲得標(biāo)簽天線的輸入阻抗。測(cè)試設(shè)備的輸出端口可以直接連接到天線的輸入端口。這是因?yàn)椴豢紤]標(biāo)簽天線本身的多重阻抗特性。天線和測(cè)試設(shè)備之間沒(méi)有共軛匹配，不能直接獲得測(cè)量天線常用的電路參數(shù)，如散射矩陣參數(shù)和駐波比。

電路用于標(biāo)簽天線測(cè)試。但是，使用匹配電路有一些缺點(diǎn)：

使用上述匹配電路進(jìn)行測(cè)試的方案不僅可以獲得正確的帶寬和東波損失等參數(shù)，還必須測(cè)試天線的圖案和增益等輻射特性。只有通過(guò)阻抗分布電路，天線接收的大部分能量才能基本上無(wú)反射地傳遞到測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試其輻射參數(shù)。

RFID電子標(biāo)簽天線應(yīng)用重點(diǎn)